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硅酸盐通报 ›› 2005, Vol. 24 ›› Issue (3): 77-80.

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SiC边界层陶瓷电容器的制备和性能特点

秦丹丹;王海龙;辛玲;黎寿山;张锐;高濂   

  1. 郑州大学材料工程学院,郑州,450002;中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050
  • 出版日期:2005-06-15 发布日期:2021-01-15
  • 基金资助:
    河南省杰出青年科学基金(512002200)

Investigation on SiC Ceramic Grain Boundary Capacitors

Qin Dandan;Wang Hailong;Xin Ling;Li Shoushan;Zhang Rui;Gao Lian   

  • Online:2005-06-15 Published:2021-01-15

摘要: 陶瓷电容器,尤其是边界层陶瓷电容器由于具有许多优良的性能,而越来越受到人们的重视.通常用于陶瓷电容器的材料是具有弛豫铁电性能的钛酸盐类材料.本文则介绍了将SiC材料用于制备陶瓷电容器,结果发现,电容器的介电常数高达2 910 000,远远高于传统材料;而同时,其介质损耗也非常高.在此,对降低损耗的工艺过程进行了探讨.

关键词: 陶瓷电容器;SiC;介电常数;介质损耗

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