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硅酸盐通报 ›› 2005, Vol. 24 ›› Issue (3): 74-76.

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纳米ZrO2前驱物表面电性能的研究

梁晓峰;罗庆平;杨世源;王军霞;尹光福   

  1. 西南科技大学材料学院,绵阳,621002;四川大学材料学院,成都,610065;西南科技大学材料学院,绵阳,621002;四川大学材料学院,成都,610065
  • 出版日期:2005-06-15 发布日期:2021-01-15
  • 基金资助:
    西南科技大学校科研和教改项目

Study on Surface Electricity of Nano Zirconia Precursor

Liang Xiaofeng;Luo Qingping;YANG Shiyuan;Wang Junxia;YIN Guangfu   

  • Online:2005-06-15 Published:2021-01-15

摘要: 利用3000HS型ζ-电位分析仪研究了ZrOCl2浓度、pH值、分散剂等因素对纳米氧化锆前驱物表面ζ-电位的影响.结果表明:低浓度ZrOCl2溶液生成的ZrO2前驱物的ζ-电位对pH值变化更加敏感;添加2%(质量分数,下同)的PEG6000和PEG20000使ZrO2前驱物的表面ζ-电位有所降低,添加2%的PEG100对前驱物ζ-电位的影响更为显著.

关键词: 纳米ZrO2;前驱物;ζ-电位

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