摘要： 硅胶作为色谱分离科学中最常使用的柱填料,其孔结构对色谱的分离性能起决定作用,所以研究填料的孔结构具有重要意义.本文通过对硅胶填料进行包埋切片,然后用扫描电镜观察其孔结构,并将此法与BET法、压汞法等传统方法测得的结果进行了比较,结果表明:此法是这些检测手段的必要补充,并且能为色谱工作者研究填料的孔结构提供更加准确、形象、直观的结构信息.
中图分类号:
杨俊佼;王丹. 扫描电镜法研究硅胶填料的孔结构[J]. 硅酸盐通报, 2008, 27(1): 169-173.
YANG Jun-Jiao;WANG Dan. Study on the Pore Structure of Chromatographic Packing Materials by Scanning Electron Microscope[J]. BULLETIN OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY, 2008, 27(1): 169-173.
