欢迎访问《硅酸盐通报》官方网站,今天是

硅酸盐通报 ›› 2005, Vol. 24 ›› Issue (6): 64-66.

• • 上一篇    下一篇

乙烯掺杂对硅薄膜沉积速率和形貌的影响

朱建强;刘涌;王靖;詹宝华;宋晨路;韩高荣   

  1. 浙江大学无机非金属材料研究所,杭州,310000
  • 出版日期:2005-12-15 发布日期:2021-01-15

Effects of Ethylene doping on Deposition Rate and Surface Profile of Silicon Films

Zhu Jianqiang;Liu Yong;Wang Jing;Zhan Baohua;Song Chenlu;Han Gaorong   

  • Online:2005-12-15 Published:2021-01-15

摘要: 采用APCVD工艺用硅烷和乙烯为原料在620℃沉积硅薄膜.用AFM观察薄膜表面形貌,用SEM扫描截面测量薄膜厚度.FTIR光谱表明薄膜中存在Si-C.研究了C2H4/SiH4摩尔比对膜厚的影响,随着C2H4/SiH4的增大,薄膜的沉积速率降低,表明乙烯掺杂会抑制薄膜生长,同时乙烯的加入减弱了颗粒的异常长大.

关键词: APCVD;硅薄膜;乙烯掺杂;AFM;FTIR

中图分类号: