硅酸盐通报 ›› 2004, Vol. 23 ›› Issue (5): 44-47.
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彭少方;罗文彬;张昭
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摘要： 采用计盒维数方法对中孔纯硅分子筛的结构进行了分形研究.结果表明:所研究的多孔分子筛结构存在分形现象.根据计算,室温晶化(25℃)和水热晶化(125℃)工艺所得到的产物分形维数分别为2.56和2.61,高于典型活性炭的分形维数2.21;而且3个样品的分形维数与其BET低温氮吸附法测试的比表面积变化趋势一致.因此,对多孔材料表面进行分形表征可与其表面性质相联系.
关键词: 中孔纯硅分子筛;表面;分形维数
彭少方;罗文彬;张昭. 中孔纯硅分子筛的表面分形结构表征[J]. 硅酸盐通报, 2004, 23(5): 44-47.
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