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硅酸盐通报 ›› 2000, Vol. 19 ›› Issue (4): 50-53.

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铁电陶瓷材料性能退化机理

贺连星;李承恩   

  1. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050
  • 出版日期:2000-08-15 发布日期:2021-01-15

Study on Degradation Mechanism of the Ferroelectric Ceramics

He Lianxing;Li Cheng-en   

  • Online:2000-08-15 Published:2021-01-15

摘要: 对铁电陶瓷材料老化、疲劳及电阻率退化的物理机制进行了综合评述.着重讨论了氧空位与畴界、晶界以及陶瓷材料和电极的界面的相互作用对铁电陶瓷材料性能退化的影响.

关键词: 铁电材料;老化;疲劳;电阻率退化;氧空位

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