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硅酸盐通报 ›› 1999, Vol. 18 ›› Issue (3): 18-22.

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薄膜压电性能的测量方法

包定华;张良莹;姚熹   

  1. 西安交通大学电子材料与器件研究所,710049
  • 出版日期:1999-06-15 发布日期:2021-01-15

Measuring Methods for Piezoelectric Properties of Thin Films

Bao Dinghua;Zhang Liangying;Yao Xi   

  • Online:1999-06-15 Published:2021-01-15

摘要: 压电薄膜在微传感器和微致动器方面的应用日益受到重视.薄膜压电性能的测量方法与体材相比有很大不同.本文介绍了几种测量薄膜压电特性的方法,包括:激光干涉仪法,扫描探针显微镜法,垂直加载法等,并比较了这些方法的优缺点.对已有的测量结果进行了简要分析.

关键词: 压电薄膜;压电性能;测量方法

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