硅酸盐通报 ›› 2014, Vol. 33 ›› Issue (7): 1578-1582.
王管华;赵子铭;栾伟玲;王卫泽
出版日期:2014-07-15
发布日期:2021-01-18
基金资助:WANG Guan-hua;ZHAO Zi-ming;LUAN Wei-ling;WANG Wei-ze
Online:2014-07-15
Published:2021-01-18
摘要： 量子点具有荧光光谱窄、激发光谱宽、荧光强度高、稳定性好等优势,将量子点应用于微裂纹的监测有极大的优越性.本文利用量子点涂层的荧光性能进行了陶瓷裂纹的直接检测,并与实际裂纹比较发现仅有2％的差别;借助ANSYS有限元软件计算模拟了陶瓷在产生疲劳裂纹后的应力分布.对比发现,涂层荧光强度变化和应力变化都呈区域性分布,而且应力越大,荧光强度越强,说明该方法是一种简单有效的裂纹测试手段.
中图分类号:
王管华;赵子铭;栾伟玲;王卫泽. 基于量子点荧光强度变化检测陶瓷疲劳微裂纹[J]. 硅酸盐通报, 2014, 33(7): 1578-1582.
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